Plaquette de silicium monocristallin <100> de haute pureté pour analyse SEM de précision

L'excellence technologique pour vos analyses de matériaux

La recherche scientifique et le contrôle qualité exigent des supports d'une régularité absolue. Notre plaquette de silicium monocristallin répond précisément à ces standards élevés. Conçu spécifiquement comme substrat optique SEM, ce matériau offre une planéité remarquable à l'échelle atomique. Vos observations en microscopie électronique gagnent immédiatement en clarté, éliminant les artefacts de surface qui faussent souvent les données critiques.

Une structure cristalline <100> sans compromis

Chaque lot comprend 10 pièces de dimensions rigoureuses 25x25 mm. Le dopage de type P confère à ce substrat des propriétés électriques idéales pour dissiper les charges lors de l'exposition aux faisceaux d'électrons. Que vous travailliez en laboratoire universitaire ou en centre de R&D industriel, la configuration cristalline <100> garantit un clivage net et prévisible, facilitant la préparation de vos échantillons les plus délicats.

Spécifications techniques du substrat

En choisissant ce substrat de silicium, vous sécurisez vos protocoles d'analyse avancée. La neutralité topographique du silicium monocristallin de type P permet une caractérisation fine des nanostructures, des couches minces et des poudres déposées, sans interférence visuelle ou structurelle du support.